ワイドギャップ半導体関連実験装置



光励起過渡容量応答(O-CTS)測定装置

(DLTSもできます)

DLTS測定装置

(容量、高速パルス、電流でも測定できます)

マイクロ波によるキャリアライフタイム測定装置

時間分解フォトルミネッセンスもできます

電気炉(大)

(1100℃まで到達します)

高温加熱オーブン


赤外加熱炉

(1600℃まで到達します)

3000Vまで印加可能なプローバー


自由キャリア吸収によるキャリアライフタイムマッピング装置



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