ワイドギャップ半導体関連実験装置
光励起過渡容量応答(O-CTS)測定装置
(DLTSもできます)
DLTS測定装置
(容量、高速パルス、電流でも測定できます)
マイクロ波によるキャリアライフタイム測定装置
時間分解フォトルミネッセンスもできます
電気炉(大)
(1100℃まで到達します)
高温加熱オーブン
赤外加熱炉
(1600℃まで到達します)
3000Vまで印加可能なプローバー
自由キャリア吸収によるキャリアライフタイムマッピング装置
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